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高溫四探針測(cè)試儀的應(yīng)用
高溫四探針電阻測(cè)試儀是一種專門用于測(cè)量材料在高溫環(huán)境下電阻率/方阻的精密設(shè)備,其應(yīng)用場(chǎng)景主要集中在需要高溫、高精度電阻測(cè)量的領(lǐng)域。以下是其主要應(yīng)用場(chǎng)景:1.半導(dǎo)體材料與器件半導(dǎo)體晶圓測(cè)試:測(cè)量硅片、碳化硅(SiC)、氮化鎵(GaN)等半導(dǎo)體...
2025-07-09 -
固體絕緣材料體積電阻率/表面電阻率試驗(yàn)儀試驗(yàn)方法
體積電阻率表面電阻率測(cè)試儀常見(jiàn)問(wèn)題:1。體積電阻和表面電阻的試驗(yàn)都受哪些因素影響?2。什么是體積電阻?3。什么是表面電阻?4。體積電阻率小于多少Ω·m的材料,其穩(wěn)定狀態(tài)通常在1min內(nèi)達(dá)到?5。為什么對(duì)于電阻率較高的材料,電流或電阻穩(wěn)定的過(guò)...
2013-03-06 -
電壓擊穿試驗(yàn)儀,介電擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)儀 產(chǎn)品
電壓擊穿試驗(yàn)儀的頻率變化不造成電場(chǎng)均勻度的改變,則擊穿電壓與頻率幾乎無(wú)關(guān)。在熱擊穿區(qū)域內(nèi),如果頻率使和變化不大,則擊穿電壓將與頻率的平方根成反比。如厚度為的玻璃,在工頻時(shí)的擊穿電壓為(有效值),而在高頻時(shí)擊穿電壓僅為(有效值)。這事因?yàn)轭l率...
2013-02-26 -
固體絕緣材料體積電阻率及表面電阻率測(cè)試儀相關(guān)資料
單位面積電介質(zhì)表面對(duì)正方形的相對(duì)二邊間表面泄漏電流所產(chǎn)生的電阻叫做表面電阻率,單位是歐姆/平方米.體電阻率:體電阻率是通過(guò)材料厚度的電阻值,單位是Ω·cm。(體積)電阻率定義電阻率是用來(lái)表示各種物質(zhì)電阻特性的物理量。某種材料制成的長(zhǎng)1米、橫...
2013-02-25 -
什么是介電常數(shù),介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀
什么是介電常數(shù),介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀電介質(zhì)是電的絕緣體,它內(nèi)部的自由電荷少到可以忽略的程度。由于分子內(nèi)在力的約束,電介質(zhì)分子中的帶電粒子不能發(fā)生宏觀的位移。然而在外電場(chǎng)的作用下,這些帶電粒子仍然可以有微觀的位移,即電介質(zhì)可以被極化,χe就...
2013-02-21 -
淺析介質(zhì)損耗測(cè)試儀的基本工作原理
介質(zhì)損耗測(cè)試儀的基本工作原理:在交流電壓作用下,電介質(zhì)要消耗部分電能,這部分電能將轉(zhuǎn)變?yōu)闊崮墚a(chǎn)生損耗。這種能量損耗叫做電介質(zhì)的損耗。當(dāng)電介質(zhì)上施加交流電壓時(shí),電介質(zhì)中的電壓和電流間存在相角差Ψ,Ψ的余角δ稱為介質(zhì)損耗角,δ的正切tgδ稱為介...
2013-02-20 -
電壓擊穿試驗(yàn)儀的主要適用范圍
電壓擊穿試驗(yàn)儀絕緣材料電氣強(qiáng)度試驗(yàn)方法,硫化橡膠工頻電壓擊穿強(qiáng)度和耐電壓強(qiáng)度試驗(yàn)GB/T3333電覽紙工頻電壓擊穿試驗(yàn)方法HG/T3330絕緣漆漆膜擊穿強(qiáng)度測(cè)定法GB12656電容器紙工頻電壓擊穿試驗(yàn)方法及ASTMD149標(biāo)準(zhǔn)要求。電壓擊穿...
2013-02-20 -
電壓擊穿試驗(yàn)儀、介電擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)儀以及交直流試驗(yàn)之間的切換
電壓擊穿試驗(yàn)儀,介電擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)儀,交直流試驗(yàn)的切換:1、本儀器高壓輸出為交流電壓。直流的獲得方式為在原回路中串入高壓硅堆,使測(cè)試回路為脈動(dòng)的直流電壓。實(shí)現(xiàn)的過(guò)程為:硅堆已經(jīng)在高壓變壓器的高壓絕緣塔中,平時(shí)用一個(gè)短路桿把高壓硅堆短接。需要直...
2012-12-04